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時代超聲波探傷儀針對鍛件探傷
日期:2024-12-27 18:47
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摘要:時代超聲波探傷儀針對鍛件探傷
鍛件中常見的缺陷有偏折、疏松、非金屬夾雜物、氣夾、白點(diǎn)、縮孔、裂紋等。白點(diǎn)及裂紋是危險性缺陷。白點(diǎn)與非金屬夾雜物的波形如下圖,探測時應(yīng)注意區(qū)別。
一.探傷次序 超聲波探傷儀對鍛件的探測,可分為早期探測,驗(yàn)收性探測和維護(hù)探測等三種。早期探測是在鍛坯經(jīng)粗加工后,**或在*易產(chǎn)生缺陷的部位上進(jìn)行。驗(yàn)收性探測是在加工后再經(jīng)熱處理的鍛件,在熱處理后**的進(jìn)行。維護(hù)性探測是在工件運(yùn)轉(zhuǎn)一段時期后,在應(yīng)力*大的部位...
時代超聲波探傷儀針對鍛件探傷
鍛件中常見的缺陷有偏折、疏松、非金屬夾雜物、氣夾、白點(diǎn)、縮孔、裂紋等。白點(diǎn)及裂紋是危險性缺陷。白點(diǎn)與非金屬夾雜物的波形如下圖,探測時應(yīng)注意區(qū)別。
一.探傷次序 超聲波探傷儀對鍛件的探測,可分為早期探測,驗(yàn)收性探測和維護(hù)探測等三種。早期探測是在鍛坯經(jīng)粗加工后,**或在*易產(chǎn)生缺陷的部位上進(jìn)行。驗(yàn)收性探測是在加工后再經(jīng)熱處理的鍛件,在熱處理后**的進(jìn)行。維護(hù)性探測是在工件運(yùn)轉(zhuǎn)一段時期后,在應(yīng)力*大的部位進(jìn)行。
二.探測條件 鍛件的探測,主要采用脈沖反射法,表面光潔度高的用接觸法,表面粗糙而未加工的用間接接觸法或液浸法。需要探測的重要鍛件的表面光潔度應(yīng)達(dá)?6以上。除奧氏體鋼外,通常鍛件的晶粒較細(xì),探測頻率一般采用2~5兆赫。一般的碳鋼、合金鋼和低合金鋼鍛件并經(jīng)熱處理的,探測頻率可選用2~3兆赫。未經(jīng)細(xì)化處理的鍛坯,宜選用1~1.5兆赫。探測近距離或微小的缺陷時,可用5兆赫。質(zhì)量要求高的鍛件(采用浸液法時),可用10兆赫。
鍛件中的缺陷方向,一般與鍛壓方向垂直,因此,探測時應(yīng)以鍛壓面作主要探測面,如下圖所示。在探測過程中,探傷儀探頭的移動應(yīng)使被測部位的整個截面都受到聲束的掃查。其移動速度約為50~100毫米/秒,移動線的間距通常不超過晶片尺寸之半。
探傷儀探測林敏度的選擇應(yīng)根據(jù)工件的要求而定,調(diào)節(jié)方法有兩種:(1)采用參考試塊的直接調(diào)節(jié)。根據(jù)被測工件厚度,選取相應(yīng)的參考試塊,使當(dāng)量孔反射波,達(dá)到規(guī)定高度。 (2)先將被測工件的底波調(diào)整到規(guī)定高度,然后根據(jù)預(yù)先做好的試驗(yàn)或理論算出的數(shù)據(jù),將靈敏度提高到規(guī)定高度。在調(diào)節(jié)探測靈敏度時,儀器的“抑制”、“深度補(bǔ)償”及“重復(fù)頻率”之旋鈕,*好放在關(guān)的位置。
鍛件中常見的缺陷有偏折、疏松、非金屬夾雜物、氣夾、白點(diǎn)、縮孔、裂紋等。白點(diǎn)及裂紋是危險性缺陷。白點(diǎn)與非金屬夾雜物的波形如下圖,探測時應(yīng)注意區(qū)別。
一.探傷次序 超聲波探傷儀對鍛件的探測,可分為早期探測,驗(yàn)收性探測和維護(hù)探測等三種。早期探測是在鍛坯經(jīng)粗加工后,**或在*易產(chǎn)生缺陷的部位上進(jìn)行。驗(yàn)收性探測是在加工后再經(jīng)熱處理的鍛件,在熱處理后**的進(jìn)行。維護(hù)性探測是在工件運(yùn)轉(zhuǎn)一段時期后,在應(yīng)力*大的部位進(jìn)行。
二.探測條件 鍛件的探測,主要采用脈沖反射法,表面光潔度高的用接觸法,表面粗糙而未加工的用間接接觸法或液浸法。需要探測的重要鍛件的表面光潔度應(yīng)達(dá)?6以上。除奧氏體鋼外,通常鍛件的晶粒較細(xì),探測頻率一般采用2~5兆赫。一般的碳鋼、合金鋼和低合金鋼鍛件并經(jīng)熱處理的,探測頻率可選用2~3兆赫。未經(jīng)細(xì)化處理的鍛坯,宜選用1~1.5兆赫。探測近距離或微小的缺陷時,可用5兆赫。質(zhì)量要求高的鍛件(采用浸液法時),可用10兆赫。
鍛件中的缺陷方向,一般與鍛壓方向垂直,因此,探測時應(yīng)以鍛壓面作主要探測面,如下圖所示。在探測過程中,探傷儀探頭的移動應(yīng)使被測部位的整個截面都受到聲束的掃查。其移動速度約為50~100毫米/秒,移動線的間距通常不超過晶片尺寸之半。
探傷儀探測林敏度的選擇應(yīng)根據(jù)工件的要求而定,調(diào)節(jié)方法有兩種:(1)采用參考試塊的直接調(diào)節(jié)。根據(jù)被測工件厚度,選取相應(yīng)的參考試塊,使當(dāng)量孔反射波,達(dá)到規(guī)定高度。 (2)先將被測工件的底波調(diào)整到規(guī)定高度,然后根據(jù)預(yù)先做好的試驗(yàn)或理論算出的數(shù)據(jù),將靈敏度提高到規(guī)定高度。在調(diào)節(jié)探測靈敏度時,儀器的“抑制”、“深度補(bǔ)償”及“重復(fù)頻率”之旋鈕,*好放在關(guān)的位置。